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品牌
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時(shí)代儀器
德國(guó)德圖TESTO
國(guó)產(chǎn)
蘭泰
星晟檢測(cè)
美國(guó)博士能BUSHNELL
南通友聯(lián)
英國(guó)易高
日本小野
瑞士徠卡LEICA
日本理音RION
臺(tái)灣衡欣AZ
德國(guó)尼克斯
德國(guó)KK
法國(guó)CA
日本HIOKI
臺(tái)灣PROVA
德國(guó)EPK
美國(guó)GE
武漢中科
美國(guó)達(dá)高特
德國(guó)馬爾
美國(guó)FLUKE
主要技術(shù)指標(biāo)
價(jià)格
激光轉(zhuǎn)速表
DT-2857
蘭泰
測(cè)量范圍:2.5-99999轉(zhuǎn)/分
光電測(cè)量距離:50-600mm
準(zhǔn)確度:±(0.05%n+1d)
洽詢(xún)
手持激光測(cè)距儀
DISTO D3a/BT
瑞士徠卡LEICA
± 1.0mm測(cè)量精度(標(biāo)準(zhǔn)) 測(cè)量結(jié)果精確
± 45° 傾角傳感器 可直接測(cè)量角度
洽詢(xún)
激光測(cè)距儀
Laser440
國(guó)產(chǎn)
測(cè)量距離: 10-400m (10.5-437yd)
洽詢(xún)
激光測(cè)距儀
PRO TROPHY
美國(guó)博士能BUSHNELL
測(cè)距范圍:5-730米
洽詢(xún)
單筒望遠(yuǎn)鏡式激光測(cè)距儀
ELITE1500
美國(guó)博士能BUSHNELL
測(cè)距范圍
5-1500碼(約5-1370米)
洽詢(xún)
專(zhuān)用激光測(cè)距望遠(yuǎn)鏡
Pinseeker 1500
美國(guó)博士能BUSHNELL
測(cè)距范圍
5-1500碼(約5-1370米)
觀察放大倍數(shù)
7倍
洽詢(xún)
高爾夫?qū)S眉す鉁y(cè)距望遠(yuǎn)鏡
PINSEEKER W_Slope 1500
美國(guó)博士能BUSHNELL
測(cè)角度范圍 +/-20°
測(cè)距范圍
5-1500碼(約5-1370米)
洽詢(xún)
壁厚測(cè)量?jī)x
DM5E系列
美國(guó)GE
材料聲速范圍:0.508到18.699毫米/毫秒(0.0200到0.7362英寸/毫秒)
洽詢(xún)
超聲波測(cè)厚儀
DMS Go
美國(guó)GE
多種測(cè)量模式:A 掃描、厚度、B 掃描、最小/最大、溫差范圍
洽詢(xún)
霍爾效應(yīng)瓶壁測(cè)厚儀
FH7400
德國(guó)EPK
測(cè)量厚度高達(dá)10mm
洽詢(xún)
超聲波測(cè)厚儀
HCH-2000D
國(guó)產(chǎn)
測(cè)量范圍:0.65-260mm (配不同探頭)
洽詢(xún)
超聲波測(cè)厚儀鋼高溫型
TT120
時(shí)代儀器
測(cè)量范圍(鋼):1.2mm~225.0mm(5MHz探頭),高溫測(cè)厚
洽詢(xún)
超聲波測(cè)厚儀
TT340
時(shí)代儀器
測(cè)量范圍:5.0~40.0mm(鑄鐵)1.2~300.0(鋼)
洽詢(xún)
超聲波測(cè)厚儀(可穿透涂層)
TIME2136-原TT360
時(shí)代儀器
測(cè)量范圍:</p>0.6mm-300mm(根據(jù)待檢材料、溫度、測(cè)量模式及傳感器而定)
洽詢(xún)
麥考特機(jī)械涂層測(cè)厚儀
MIKROTEST NI50
德國(guó)EPK
測(cè)量范圍:0-50um
洽詢(xún)
麥考特機(jī)械涂層測(cè)厚儀
MIKROTEST NIFE50 6
德國(guó)EPK
測(cè)量范圍:0-50μm
洽詢(xún)
麥考特機(jī)械涂層測(cè)厚儀
MIKROTEST S3 6
德國(guó)EPK
測(cè)量范圍:0.2-3mm
洽詢(xún)
涂鍍層測(cè)厚儀
Minitest 2100
德國(guó)EPK
量程根據(jù)探頭決定
洽詢(xún)
涂鍍層測(cè)厚儀
Minitest 4100
德國(guó)EPK
量程根據(jù)探頭決定
洽詢(xún)
筆式涂層測(cè)厚儀
PENTEST
德國(guó)EPK
測(cè)量范圍: 25-700um或1-28mils
洽詢(xún)
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